以線紋尺的刻度(du)或光波波長作為(wei)已知(zhi)長度(du)，利用機械測(ce)(ce)頭進行接(jie)觸(chu)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)的光學長度(du)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)工(gong)具。測(ce)(ce)長機具有(you)能在3個(ge)坐標內(nei)移動和(he)2個(ge)坐標內(nei)轉動的可調工(gong)作臺(tai)，還帶(dai)有(you)不同測(ce)(ce)頭和(he)附(fu)件，常用于檢(jian)定(ding)大尺寸量(liang)(liang)(liang)塊和(he)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)多種工(gong)件的內(nei)、外尺寸。
以(yi)線(xian)紋尺(chi)(chi)的(de)刻度(du)或光波波長(chang)作(zuo)為(wei)已知長(chang)度(du)，利用(yong)(yong)機械測(ce)頭進(jin)行接觸測(ce)量(liang)(liang)(liang)的(de)光學長(chang)度(du)測(ce)量(liang)(liang)(liang)工具。測(ce)長(chang)機具有(you)能在3個坐標內(nei)移動(dong)和2個坐標內(nei)轉(zhuan)動(dong)的(de)可調工作(zuo)臺，還帶有(you)不(bu)同測(ce)頭和附(fu)件(jian)，常用(yong)(yong)于檢定大尺(chi)(chi)寸(cun)(cun)量(liang)(liang)(liang)塊和測(ce)量(liang)(liang)(liang)多(duo)種(zhong)工件(jian)的(de)內(nei)、外尺(chi)(chi)寸(cun)(cun)。測(ce)長(chang)機有(you)1米(mi)、3米(mi)、6米(mi)和6米(mi)以(yi)上等(deng)幾種(zhong)測(ce)量(liang)(liang)(liang)范(fan)圍(wei)，分度(du)值通(tong)常為(wei)1微(wei)米(mi)。為(wei)求結構緊湊，多(duo)數測(ce)長(chang)機不(bu)采用(yong)(yong)阿貝(bei)原則(ze)（見長(chang)度(du)測(ce)量(liang)(liang)(liang)工具），而采用(yong)(yong)愛賓斯坦光學系統。這種(zhong)光學系統能自動(dong)補償由于導軌(gui)直線(xian)度(du)誤(wu)(wu)差(cha)引起的(de)測(ce)量(liang)(liang)(liang)誤(wu)(wu)差(cha)。
測量范圍在1米以內的習慣上稱為測長儀，它利用讀數顯微鏡和帶有線紋尺的測量軸組成的測量系統（習慣上稱為阿貝頭）進行接觸測量。阿貝頭的示值范圍一般為 100毫米。測長儀有立式和臥式兩種。它的結構設計一般符合阿貝原則，故通常也稱為阿貝測長儀。立式測長儀和臥式測長儀的測量范圍通常分別不大于250毫米和600毫米(測量范圍大于100毫米時需要用量塊調整零位)。前者主要用于測量外尺寸,后者主要用于測量較大工件或在立式測長儀上不易定位的工件如圓盤等的內、外尺寸等。廣西計量檢測
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